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- SRM 1992 - Zeta電位-膠體二氧化硅
NIST SRM 1992 - Zeta電位-膠體二氧化硅（標稱質量分數 0.15 %） 旨在評估用于測量 zeta 電位和電泳遷移率的儀器和/或方法的性能。
- 品牌：美國NIST
- 規格：4 x 5 mL
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- SRM 1993 - Zeta電位-膠體二氧化硅
NIST SRM 1993 - Zeta 電位 - 膠體二氧化硅（標稱質量分數 2.2 %） 旨在評估用于測量 zeta 電位和電泳遷移率的儀器和/或方法的性能。
- 品牌：美國NIST
- 規格：2 x 25 mL
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- SRM 2031c - 熔石英中性密度濾光片(250 nm至635 nm)
NIST SRM 2031c 熔融石英上中性密度濾光片（標準品）旨在用于驗證分光光度計在紫外和可見光譜區域的透射率和吸光度標度。
- 品牌：美國NIST
- 規格：set (3)
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- SRM 2034 - 氧化鈥溶液波長標準(240 nm至650 nm)
NIST SRM 2034氧化鈥溶液波長標準(標準品)是一種經過認證的轉移標準，用于驗證和校準標稱光譜帶寬不超過 3 nm 的紫外和可見吸收分光光度計的波長范圍。
- 品牌：美國NIST
- 規格：比色皿
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- SRM 2035b - 紫外可見光近紅外波長/波數傳輸標準
NIST SRM 2035b 紫外可見光近紅外波長（標準品） 是一種經過認證的轉移標準，用于驗證和校準在透射模式下運行的紫外可見 (UV-Vis) 和近紅外 (NIR) 光譜儀的波數/波長范圍。
- 品牌：美國NIST
- 規格：each
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- SRM 2036 - 近紅外波長/波數反射標準
NIST SRM 2061顯微分析用TiAl(NBW)合金（標準品）用于對航空部件和具有類似基質的材料中的鈦 (Ti) 和鋁 (Al) 進行微量分析。
- 品牌：美國NIST
- 規格：each
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- SRM 2061 - 顯微分析用鈦鋁(NBW)合金
NIST SRM 2061顯微分析用TiAl(NBW)合金（標準品）用于對航空部件和具有類似基質的材料中的鈦 (Ti) 和鋁 (Al) 進行微量分析。
- 品牌：美國NIST
- 規格：cube
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試劑標準品
